X射線光譜儀
RoHS檢測儀、鍍層厚度檢測儀
RoHS檢測儀、鍍層厚度檢測儀
產品特點:

 1.采用美國原裝電致冷高性能Si-PIN探測器,分辨率高,探測範圍寬,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規材料分析的基本要求。

2. 配置國際最先進的DPP數字多道信號集成處理器,比普通模擬多道信號處理器性能更佳,尤其在高計數率時有更好的分辨力(HgCl),高達80MHz的數據傳輸速度使分析時間更短,測量重複性和長期穩定性更好。
 
3. 內置高清攝像係統,清晰觀察樣品,準確定位樣品測試區域。
 

4. 配套最新的FP測量軟件,集成多種譜圖處理算法和基體校正算法,有效降低儀器測量中的各種幹擾譜峰,使低含量和痕量元素的檢測結果更加準確,更加接近真值水平

技術參數:

    1. 分析範圍:硫(S)-鈾(U
     Measurable elementsS-U
    2. 含量範圍:2ppm-99.99
     Element content: 2ppm-99.99
    3. 測量時間:50-300(可調)
     Measurement time 50-300sadjustable
    4. 能量分辨率:149±5eV
     Resolution149±5eV
    5. 高壓電源功率:50W
     High voltage power supply power50W
    6. 樣品腔尺寸: 610mm×320mm×100mm
    Sample chamber size : 610mm×320mm×100mm
應用領域:


  RoHS、鹵素環保指令
  鍍層厚度測試
  合金分析(銅合金不鏽鋼等)

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