X射線光譜儀
鍍層厚度檢測儀、ROHS分析儀
鍍層厚度檢測儀、ROHS分析儀

鍍層厚度檢測儀

產品特點:

 1. 采用目前世界上最先進的FAST SDD電製冷快速矽漂移探測器,單位時間接收的信息更多,信號處理速度更快,最快5秒即可出結果

FAST SDD與標準配置SDD探測器相比有更快的處理速度和更高的分辨率

2. 配套數字多道分析技術和信噪比增強係統,在超高計數率時依然能保持良好的峰背比和分辨率

在計數率接近20萬測試時依然能保持良好的效率

3. 進口超薄鈹窗牛津光管配套高效真空係統,使其在測試微量輕元素時輕鬆自如

某鋁合金樣品中Mg(鎂)含量為0.03%的檢出譜圖

4. 對客戶特殊需求可定製個性化解決方案

5. 某客戶電池芯杆材料Pb(鉛)含量要求管控在50ppm以下

應用領域:

    1. RoHS/無鹵指令檢測

    2. 合金分析領域(特別是輕元素)

    鋁合金成分分析及牌號判定

    銅合金成分分析及牌號判定

    不鏽鋼成分分析及牌號判定

    合金鋼、鑄鐵、生鐵成分分析

    3. 鍍層厚度分析

    鍍層成分分析

    鍍液環保分析

    4. 包裝指令檢測(94/62/ECCd+Pb+Hg+Cr6+<100

    5. 玩具指令檢測標準  EN71-3


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